Page 38 - NECTEC towards National Digital Platform

ONSPEC

NECTEC SERS Chips

ชิปขยายสัญญาณรามาน

ปจจุบันเทคนิคการตรวจวัดเอกลักษณของสารเคมีดวยเทคนิค

การตรวจสอบระบุสารเคมีด้วยเทคนิคสเปกโทรสโคปี สเปกโทรสโคปีตรวจวัดสัญญาณรามาน ไดรับความนิยมเพิ่ม

มีแนวโน้มที่จะมาทดแทนเทคนิคมาตรฐานแบบเดิม มากขึ้นเรื่อย ๆ เนื่องจากความกาวหนาของเทคโนโลยีแหลงกำเนิด

แสงเลเซอรแบบ solid-state สงผลใหเครื่องตรวจวัดมีราคาลดลง

ด้วยจุดเด่นในด้านการตรวจวัดที่รวดเร็ว พรอมทั้งยังมีขนาดที่เล็กลงและยังใหประสิทธิภาพที่สูงขึ้นอีกดวย

ไม่มีการปล่อยของเสียจากการเตรียมตัวอย่าง

และสามารถตรวจวัดนอกห้องปฏิบัติการได้ ทำใหมีความนิยมนำเอาระบบตรวจวัดสัญญาณรามานมาใชเปน

เทคนิคมาตรฐานในการตรวจระบุองคประกอบและเอกลักษณทาง

อยางไรก็ตามเทคนิคสเปกโทรสโคป เคมีทั้งภายในหองปฏิบัติการและการพกพาสำหรับตรวจในภาคสนาม

ยังมีขอจำกัดในเรื่องการตรวจวิเคราะหทางเคมี
ที่มีปริมาณโมเลกุลตัวอย่างน้อยหรือความเข้มข้นต่ำมาก อยางไรก็ตามการตรวจวัดสัญญาณรามานมีขอจำกัดสำหรับ

(Trace Analysis) การวัดสารที่มีปริมาณหรือความเขมขนนอยมาก ๆ เนคเทค สวทช.

ที่โดยปกติจะไม่สามารถตรวจวัดได้ จึงพัฒนาพื้นผิวขยายสัญญาณรามาน (Surface-Enhanced
Raman Spectroscopy: SERS) เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพการขยาย

สัญญาณรามานดังกล่าวในการตรวจวัดและวิเคราะห์โมเลกุลของ

สารเคมีได้มากจนถึงระดับที่สามารถตรวจวัดสารตกค้าง

(Trace) ประเภทต่าง ๆ ได้อย่างแม่นยำมากขึ้น